MEMSおよび水晶ベース発振器の電磁場感受率の比較

電源、電線、雷、コンピュータ装置および電子部品はすべて、電子部品の性能に影響を及ぼす恐れのある電磁妨害(EMI)の潜在源です。EMIは、単一システムの電気経路を経由してあるコンポーネントから他のコンポーネントに伝わったり、放送波を通じて送信されたりする可能性があります。無線周波数(RF)を経由して通信する必要のあるデバイスは、他の装置を妨害する可能性のある電磁信号を故意に発しますが、電磁信号を発するように設計されていないデバイスであっても、意図せずにEMIノイズの要因となる場合があります。FCC規制は、計算装置や電子レンジ等の特定クラスのデバイスからの許容放射量を制限していますが、これは、民生品からのEMIによって電子部品が障害を受けないことを保証するものではありません。ほとんど全ての電子デバイスや電子部品はEMIを生じえるので、タイミングデバイスをはじめとする電子部品への障害を避けるため、回路設計の一部としてEMI発生を考慮することが重要です。 外部EMI発生源のが存在すると、発振器の位相ノイズおよび位相ジッタが著しく増加する場合があります。基板レベルでのシールディングやフィルタリングによって発振器に到達するEMIを低減させることはできますが、この方法が常に成功するとは限りません。様々な発振器の電磁場感受率(EMS)を評価することによって、EMSの一因となる要因を特定することができ、どのようにすれば適切な発振器の設計がクロック性能へのEMIの悪影響を最小限にできるかを理解することができます。

 
This document cannot be viewed on a mobile device or with increased screen zoom functions. Please download the document.