值得您信赖的可靠性

Arrows hit targets

您的设计关心可靠性和现场故障吗？
SiTime 计时解决方案可以提供帮助。

硅器件本质上比石英产品更可靠。我们的硅 MEMS 谐振器采用先进的 EpiSeal™ 工艺进行真空密封，可消除异物并大大提高可靠性。

50 ×
更可靠*
>1
十亿小时平均无故障时间
1
散客费率

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MEMS 计时解决方案可靠性主要特征
6-Pin MEMS Oscillator QFN (Top & Bottom Angled View)
MHz 振荡器
>22 亿小时 MTBF
0.5 FIT 率		1 至 725 MHz、LVCMOS XO、差分 XO、VCXO、DCXO、SSXO
5032 10-Pin Ceramic MEMS Oscillator (Top & Bottom Angled View)
精密 MHz Super-TCXO
 >22 亿小时 MTBF
0.5 FIT 率		Stratum 3/3E，1 至 220 MHz，±0.05 至 ±2.5 ppm，+105°C，耐温
5032 10-Pin Ceramic MEMS Oscillator (Top & Bottom Angled View)
加固型振荡器/TCXO
 >22 亿小时 MTBF
0.5 FIT 率		超稳健的 Super-TCXO、XO、差分 XO、VCXO、DCXO、SSXO
4-Pin MEMS Oscillator QFN (Top & Bottom Angled View)
汽车振荡器
>22 亿小时 MTBF
0.5 FIT 率		AEC-Q100 Super-TCXO、XO、差分 XO、SSXO，+125°C
4-Pin 1508 package (Top & Bottom Angled View)
32 kHz XO/TCXO &
1 Hz 至 26 MHz XO/TCXO

>10 亿小时 MTBF
1 散客率

超小型 1.2 mm 2芯片级封装 (CSP)、低功耗
2520 4-Pin Package (Top & Bottom Angled View)
有源 MEMS 谐振器
>22 亿小时 MTBF
0.5 FIT 率		1 至 725 MHz，晶体谐振器更换，可靠性更高，+85°C
Cascade 64-Pin MEMS Clock (Angled)
抖动清除器，
网络同步器，
时钟发生器
>4 亿小时 MTBF**
2.3 FIT 率**		具有集成 MEMS 谐振器的时钟片上系统产品

**新版本

比传统石英具有更好的可靠性

平均故障间隔时间 (MTBF) 可预测设备的预期寿命。 MTBF 越高，设备越可靠。 SiTime 对数以万计的振荡器进行了压力测试，发现我们基于 MEMS 的振荡器非常可靠，其质量水平在半导体行业中名列前茅，比石英计时器件好几个数量级。

事实上，SiTime 计时设备保证永远运行。我们的终身保修体现了我们对生产最高质量和可靠性产品的承诺，旨在让您更有信心在您的应用中使用最可靠的计时组件。

* SiTime 振荡器的可靠性比同类石英器件高出 50 倍。
SiTime timing devices are up to 50x more reliable than legacy quartz
可靠性计算器
SiTime 振荡器对于您的应用来说有多可靠？

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获取 SiTime 振荡器在应用的特定温度和电压条件下运行时的 FIT 率和 MTBF 数据。

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其他资源

• 技术论文：硅MEMS 振荡器的弹性和可靠性——了解在真实环境条件下对石英振荡器和MEMS 振荡器进行的比较实验。

• 技术论文： SiTime 的MEMS First™ 和EpiSeal™ 工艺——了解使SiTime MEMS 谐振器极其稳定、耐用和可靠的制造工艺。

• 应用指南： AN10025 SiTime 振荡器的可靠性计算– 了解 SiTime MEMS 振荡器的测试过程和预测 MTBF 的计算。

• 文档：质量报告——查找验证SiTime 产品所需的可靠性数据和其他信息。

• 白皮书：利用超稳健的MEMS 振荡器提高汽车可靠性和性能——了解汽车应用中的MEMS、硅MEMS 制造工艺、汽车制造的封装特性等。

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