示波器和频谱分析仪

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随着各行各业技术的进步,测试测量设备需要以越来越高的精度来分析和验证设备性能。这需要精确且可靠的时序参考来进行测量。SiTime MEMS 时序解决方案提供了时钟合成所需的稳定性引擎。除了提供更高的稳定性和更低的漂移外,SiTime MEMS 的 TCXO 和 OCXO 还具有更佳的抗老化性能,从而能够长期延长设备精度并提升其价值。

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SiTime MEMS计时优势

完整的MEMS时钟树

精密 MEMS OCXO

Stratum 3 超级 TCXO

10输出时钟发生器

在现实世界条件下最稳健

终身稳定:10 年内 ±70 ppb

I2C 监控简化补偿

集成 MEMS 节省空间,简化 BOM

易于使用,经久耐用

定制配置解决方案

无石英可靠性问题

10亿小时平均无故障时间

典型矢量信号分析仪框图

数字示波器框图

示波器和频谱分析仪的 MEMS计时解决方案

设备主要特点核心价值
单端振荡器
SiT8208 1至80 MHz
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SiT8209 80至220 MHz
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  • 低抖动: 0.5 ps RMS [1]
  • ±10 ppm 至 50 ppm 频率稳定度
  • 任意频率输出
  • FlexEdge™ 可配置输出驱动强度
  • 1.8伏、2.5伏、3.3伏
  • 更好的频率和抖动裕度增强了系统稳定性和稳健性
  • 轻松获得任何设备配置
  • 最大限度地减少振荡器的 EMI
差分振荡器
SiT9366 1至220 MHz
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SiT9367 220至725 MHz
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  • 低抖动:0.23 ps RMS [1]
  • LVPECL、LVDS、HCSL
  • 2.5至3.3 V
  • -40°C 至 105°C
  • 3.2 x 2.5 毫米封装
  • 满足严格的抖动要求
  • PCB布局小,布局更简单
  • 灵活性使设计变得简单
  • MEMS可靠性
直流晶体振荡器
SiT3921 1至220 MHz
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SiT3922 220至625 MHz
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  • 数字频率控制
  • 1 ppb 分辨率
  • 无需外部 DAC 来控制 VCXO
  • 数字控制带来更高的精度和更低的噪音
超级TCXO
SiT5356 1至60 MHz
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SiT5357 60至220 MHz
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  • 低抖动:0.31 ps RMS [1]
  • ±0.1 ppm 稳定性
  • 1 ppb/°C
  • -40°C 至 105°C
  • 最大限度地减少因冲击、振动或温度变化导致的链路中断
恒温晶振 (OCXO)
SiT57xx 1至60 MHz
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  • ±0.005 ppm 稳定性
  • -40°C 至 +85°C
  • I2C数字频率调谐消除电路板噪声
  • 动态稳定性提高 10 倍(150 ppt/°C ΔF/ΔT),耐气流和热冲击
时钟发生器
SiT9514x 8 kHz 至 2.1 GHz
  • 最多 11 个输出
  • 125 fs RMS [1]相位抖动
  • 集成和性能

1 12 kHz 至 20 MHz 积分范围

MEMS计时性能优于石英

更好的稳定性

更好的频率斜率

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SiTime – Better Stability
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SiTime – Better Frequency Slope

更快预热

更好的抗震性

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SiTime – Faster Warm Up
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SiTime – Better Vibration Resistance

更好的艾伦偏差

更好地老龄化

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SiTime – Better Allan Deviation
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SiTime – Better Aging
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