Endura Epoch プラットフォーム OCXO

測位ナビゲーションおよびタイミング (PNT) システムは、正確なタイミングに依存します。ほとんどの PNT システムのタイミングの主なソースは GPS またはその他の GNSS です。 GPS は、電波妨害、なりすまし、悪天候、樹冠、建物内などにより、意図的または非意図的に妨害される可能性があります。 GPS 信号が中断されると、非常に安定したローカル クロックがない限り、重要な機器は動作できなくなります。信頼できる時計がなければ、軍事または航空宇宙作戦において混乱が壊滅的な結果をもたらす可能性があります。

耐久性の高い MEMS OCXO (オーブン制御発振器) の Endura Epoch Platform™ は、本質的に信頼性が低く、衝撃や振動によって性能が低下しやすく、かさばって電力を消費する従来の水晶 OCXO の長年の問題を解決します。 Endura OCXO は、標準の +1ppb OCXO と比較して、周波数安定性、サイズ、消費電力のベンチマーク パフォーマンスを提供します。

* すべてのデバイスは以下を提供します: (1) I2C/SPI 経由のデジタル周波数プル (DCOCXO)、最大 ±800 ppm プル範囲および 0.05 ppt (5e-14) 分解能。 (2) 2.5V、2.8V、3.3V の電源電圧オプション。 (3) 安定化された LVCMOS またはクリップされた正弦波出力。

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シリコンの信頼性

Endura Epoch OCXO は、高純度の材料と統計的プロセス制御の下で管理された環境を使用する業界標準のマイクロエレクトロニクス工場で製造されています。 Endura OCXO は、大量生産向けの設計とプロセスを認定する統計的認定を受けます。これにより、クォーツ OXCO よりも 30 倍高い信頼性が得られます。

過酷な環境向けの堅牢なOCXO

Endura Epoch OCXO は、衝撃や振動の多い環境でも動作するように設計され、テストされています。これらは、外部振動補償なしで 10G 振動下で 0.01 ppb/g の g 感度を実証しており、これは市販の振動定格 OCXO よりも 20 倍優れています。これにより、大きくて重い振動補償 OCXO やカスタムの振動減衰システムの設計が不要になります。

Endura Epoch OCXO は、以下の分野で市販の振動定格 OCXO よりも優れた性能を発揮します。

• 0.01 ppb/g の G 感度 - 70 倍優れています
• 全温度範囲で±1 ppbの安定性 – 20倍優れています
• ±0.01 ppb/°C ΔF/ΔT、温度勾配に対する安定性 - 10 倍優れています
• 5E-12 アラン偏差 (ADEV) – 4 倍優れています
• 0.1 ppb/日の短期老化 – 10 倍優れています

低SWaPソリューション

Endura Epoch OCXO は、ベンチマーク パフォーマンスを実現しながら、サイズ、重量、電力 (SwaP) が大幅に向上します。これらは比類のない使いやすさを提供し、熱、EMI、設置面積、高さによる基板配置の制限を排除し、振動減衰の必要性を軽減します。

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Endura Epoch OCXO は、従来の振動定格 OCXO のサイズと電力の問題を解決します。表面実装デバイスとして設計されているため、基板上の他のコンポーネントと同時にリフローを行うことができます。

• 9.0 x 7.0 x 3.6 mm – 最大 20 分の 1 の小型化
• 0.35 グラム – 振動補正設計に比べて最大 300 分の 1 の軽量化
• 420 mW 標準 (3.3 V) の消費電力 – 最大 2 倍の低消費電力

超安定性と復元力に優れたローカル クロックを提供

SiTime の Endura Epoch プラットフォームは、正確なタイミングの革新をもたらします。 GPS の中断または「ホールドオーバー」の間、PNT システムのパフォーマンスはローカル クロックの時間誤差によって左右されます。 Endura OCXO は、経年変化補償なしで 24 時間にわたってわずか 3 μs の時間誤差で、ホールドオーバー中にベンチマークの安定性を提供します。

Endura Epoch OCXO ホールドオーバー性能は、優れたアラン偏差と 0.1 ppb/日の低い日次老化により達成されます。

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Endura Epoch OCXO の時間誤差は、一定温度で経時変化補正なしで最大 24 時間です。

Endura Epoch OCXO は石英 OCXO を上回ります

気流下でのアダマール偏差 (HDEV)

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Endura Epoch OCXO と非振動定格の ±1ppb 市販 OCXO との間で、10,000 秒を超える測定されたアダマール偏差 (毎日のエージングを行わないアラン偏差) の比較。 Endura Epoch OCXO は、HDEV が 3 倍低いことに加えて、シリコン製造による部品間の再現性も示しています。

温度に対する周波数安定性

Endura Epoch OCXO は、-40 ～ 95°C にわたる温度に対する周波数安定性が ±1 ppb/°C で、dF/dT が ±0.1 ppb/°C と評価されており、日中、外部または内部の温度変動時でも優れたホールドオーバーを提供します。システム。

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-40 ～ 85°C における±1 ppb Endura Epoch OCXO とクラス最高の非振動定格±1 ppb 市販 OCXO の周波数安定性の比較。

温度に対する周波数の傾き (dF/dT)

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±1 ppb Endura Epoch OCXO とクラス最高の非振動定格±1 ppb 市販 OCXO の周波数安定性対温度の比較。

耐久性の高いシリコン MEMS OCXO の Endura Epoch Platform™ は、現在入手可能な商用ソリューションと比較して、温度、温度変化、振動、ホールドオーバー中の時間に対する信頼性、SWaP、周波数安定性において比類のないパフォーマンスを提供します。これにより、システム パフォーマンスの基準が今日では達成不可能なレベルまで著しく引き上げられます。