SiTime発振器の信頼性計算方法

半導体部品は、製品寿命まで確実に動作することが期待されています。 最高の信頼性評価を持つデバイスを選択すると、デバイスの原因による市場での製品故障を抑制することができます。 SiTime は MEMSの市場不具合0を目標とし、2015年1月時点で2.5億以上の発振器を提供しています。 市場不具合0というのは非常に印象的ですが、エンジニアは部品が十分な時間軸で信頼性が確保されることを求めています。半導体部品の信頼性を評価するための重要な尺度は、不具合から次の不具合までの平均時間(平均故障間隔(以下、MTBFと称す))です。したがって、MTBFが大きい程、信頼性の高いデバイスであり、耐用寿命がと高いのです。 このアプリケーションノートでは、テストプロセスとSiTime MEMS発振器のMTBFの計算について説明します。

 

 
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