オシロスコープとスペクトラム・アナライザ

あらゆる分野で技術が進歩するにつれ、試験・計測機器はデバイス性能の解析・検証において、より高精度な測定が求められています。そのためには、測定基準となる正確で堅牢なタイミングリファレンスが不可欠です。SiTimeのMEMSタイミングソリューションは、クロック合成に必要な安定性エンジンを提供します。SiTimeのMEMSベースTCXOおよびOCXOは、優れた安定性と低ワンダー性に加え、優れた経年変化特性を備えているため、機器の精度を長期にわたって向上させ、その価値を高めます。

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SiTime MEMSタイミングの利点

完全なMEMSクロックツリー

高精度MEMS OCXO

Stratum 3 スーパーTCXO

10出力クロックジェネレータ

実世界の条件で最も堅牢

生涯にわたって安定：10年間で±70ppb

簡素化された補償のためのI2Cモニタリング

統合型MEMSによりスペースを節約し、BOMを簡素化

使いやすく、長持ちする

カスタム構成ソリューション

水晶の信頼性の問題なし

10億時間のMTBF

典型的なベクトル信号アナライザのブロック図

デジタルオシロスコープのブロック図

オシロスコープおよびスペクトラムアナライザ向けMEMSタイミングソリューション

デバイス	主な特徴	主要な値
シングルエンド発振器 SiT8208 1～80MHz SiT8209 80～220MHz	低ジッタ：< 0.5 ps RMS ^[1] ±10 ppm～50 ppmの周波数安定性任意の周波数出力 FlexEdge™ 設定可能な出力駆動強度 1.8V、2.5V、3.3V	周波数とジッタマージンの向上により、システムの安定性と堅牢性が向上あらゆるデバイス構成を簡単に利用可能発振器からのEMIを最小限に抑える
差動発振器 SiT9366 1～220 MHz SiT9367 220～725MHz	低ジッタ：0.23 ps RMS ^[1] LVPECL、LVDS、HCSL 2.5～3.3V -40℃～105℃ 3.2 x 2.5 mmパッケージ	厳しいジッタ要件を満たす小さなPCBフットプリント、簡単なレイアウト柔軟性による簡単な設計 MEMSの信頼性
DCXO SiT3921 1～220 MHz SiT3922 220～625MHz	デジタル周波数制御 1ppbの分解能	VCXOを制御するための外部DACが不要になりますデジタル制御により精度が向上し、ノイズが低減
スーパーTCXO SiT5356 1～60MHz SiT5357 60～220 MHz	低ジッタ：0.31 ps RMS ^[1] ±0.1 ppmの安定性 1ppb/℃ -40℃～105℃	衝撃、振動、温度変化によるリンクのドロップを最小限に抑えます
OCXO SiT57xx 1～60MHz	±0.005 ppmの安定性 -40℃～+85℃	I ² Cデジタル周波数チューニングによりボードノイズを除去動的安定性が10倍向上（150 ppt/°C ΔF/ΔT）、気流と熱衝撃に耐性
クロックジェネレータ SiT9514x 8kHz～2.1GHz	最大11個の出力 125 fs RMS ^[1]位相ジッタ	統合とパフォーマンス